当前位置:首页>>资讯中心>>常见问题 » 功率半导体IGBT如何进行老化测试(可编程直流电源)
IGBT 作为一种新型电力电子器件,是国际上公认的电力电子技术第三次革命最具代表性的产品,是工业控制及自动化领域的核心元器件,其作用类似于人类的心脏,能够根据工业装置中的信号指令来调节电路中的电压、电流、频率、相位等,以实现精准调控的目的。因此,IGBT被称为电力电子行业里的“CPU”,广泛应用于电机节能、轨道交通、智能电网、航空航天、家用电器、汽车电子、新能源发电、新能源汽车等领域。
影响IGBT模块可靠性和稳定性因素众多,包括芯片位置的确定、不同材料的热膨胀系数及其持性、回流炉回流曲线及其他参数的设置等,要能大批量地生产出可靠性、稳定性高的IGBT模块,需要经过长期研发试验和经验积累,才能了解器件和材料特性,掌握生产工艺、找到较为合适的方案。
APPLICATION CASE功率半导体IGBT老化测试应用
测试要求
IGBT可按照电压等级划分,通常有300V、600V、900V、1200V等,其中,电动车用 IGBT 模块常用的典型型号为650V、550A 的模块,测试项目主要包括额定值测试、特性测试、耐久性及可靠性测试等。以拓沃得某客户为例,客户要求高压600V、1000V左右电压恒压给igbt动静态测试提供稳定的电压输出。电源要能够并机或者串联。根据客户需求推荐2台规格:TDC2001,电压0-1000V,电流0-1A。
IGBT测试特性
动态特性:IGBT的动态特性主要是指开通过程和关断过程,使得IGBT 反复处于导通态,测试其开通和关断过程中的延迟时间,上升时间,下降时间等。静态特性:IGBT的静态特性主要是指伏安特性、转移特性,一般需给予一个长时间的稳定电环境,最高栅源电压受最大漏极电流限制,其最佳值一般取为15V左右。测试过程电源工作状态:CV状态工作通过电源持续给设备进行施加反偏电压、常用500V、1000V及以上高压、电流在100mA以内。通过给多组产品进行老化实验。
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